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ケツト科学研究所電磁膜厚計 1台 LE-373

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商品情報

●磁性体上の非磁性被膜厚を測定
●電磁膜厚計の中位モデル
●測定範囲　0～2500μm
●データメモリ39000点、統計計算機能

●測定方式：電磁誘導式
●測定対象：磁性体上の非磁性被膜
●測定範囲：0～2500μmまたは99.0mils
●測定精度：50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2％、1000μm以上：±3％
●分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
●適合規格：JIS　K5600-1-7、JIS　H8501、JIS　H0401/ISO　2808、ISO　2064、ISO　1460、ISO　2178、ISO　19840/BS　3900-C5/ASTM　B　499、ASTM　D　7091-5、ASTM　E　376
●データメモリ数：約39,000点
●検量線メモリ：アプリケーションメモリ：100本の検量線を記憶
●プローブ：一点接触定圧式（LEP-J）
●表示方法：デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm）
●外部出力：パソコン（USBまたはRS-232C）
●電源：電池1.5V（単3アルカリ）×4
●消費電力：80mW（バックライト非点灯時）
●電池寿命：100時間（バックライト非点灯時、連続使用）
●使用温度範囲：0～40℃
●付加機能：各種機能16種
●寸法・質量：75（W）×145（D）×31（H）mm、0.34Kg
●付属品：標準板（10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μm　いずれも近似値・各1枚）、標準板ケース、鉄素地（FE-373）、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V（単3アルカリ）×4
●オプション：標準板（付属品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト：「データロガー　LDL-03」

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